Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы III Всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 14-16 июня 1984 г.

Xehetasun bibliografikoak
Egile korporatiboa:	Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, Рязанский радиотехнический институт (РРИ)
Beste egile batzuk:	Орешкин П. Т. (редактор)
Hizkuntza:	errusiera
Argitaratua:	Рязань, Изд-во РРТИ, 1985
Gaiak:	Полупроводниковые схемы стабильность надежность микроэлементы микросхемы конференции барьерные слои релаксация
Formatua:	Liburua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=275649

Deskribapena
Deskribapen fisikoa:	175 с. ил.

Antzeko izenburuak