MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 273935
005 20231101234658.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\297145 
090 |a 273935 
100 |a 20141030d1986 km y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a US 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis  |f L. C. Feldman, J. W. Mayer 
210 |a New York  |c North-Holland  |d 1986 
215 |a 352 p.  |c il. 
320 |a Index: p. 345-352 
606 1 |a Пленки тонкие  |x Исследование  |x (твердые тела)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\71990  |9 85637 
610 1 |a физика 
610 1 |a физические исследования 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a анализ 
610 1 |a поверхностные свойства 
610 1 |a английский язык 
675 |a 539.216.2  |v 3 
700 1 |a Feldman  |b L. C.  |g Leonard 
701 1 |a Mayer  |b J. W.  |g James 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20141030 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170117  |g RCR 
942 |c BK