• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Recherche avancée
  • Fundamentals of Surface and Th...
  • Citer
  • Envoyer par SMS
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Permalien
Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis

Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis

Détails bibliographiques
Auteur principal: Feldman L. C. Leonard
Autres auteurs: Mayer J. W. James
Langue:anglais
Publié: New York, North-Holland, 1986
Sujets:
Пленки тонкие > Исследование > (твердые тела)
физика
физические исследования
тонкие пленки
анализ
поверхностные свойства
английский язык
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=273935
  • Exemplaires
  • Description
  • Documents similaires
  • Affichage MARC

Documents similaires

  • Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
    par: Палатник Л. С. Лев Самойлович
    Publié: (Москва, Наука, 1972)
  • Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.
    par: Фелдман Л. Леонард
    Publié: (Москва, Мир, 1989)
  • Thin Films Science and Technology; V. 2 : Size Effects in Thin Films
    par: Tellier C. R.
    Publié: (Amsterdam, Elsevier Science Publishing Company, Inc., 1982)
  • Тонкие пленки и их применение: материалы II республиканской конференции, Вильнюс, 2-4 декабря 1968 г.
    Publié: (Вильнюс, [Б. и.], 1969)
  • Формирование тонких пленок: учебное пособие
    par: Кирсанова Т. С. Татьяна Сергеевна
    Publié: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1983)