• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
מתקדם
  • Физические основы надежности к...
  • יצירת מראה מקום
  • שליחה במסרון
  • שלח את זה
  • הדפסה
  • יצוא רשומה
    • יצוא אל RefWorks
    • יצוא אל EndNoteWeb
    • יצוא אל EndNote
  • Permanent link
Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике

Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Стриха В. И. Виталий Илларионович
מחברים אחרים: Бузанева Е. В. Евгения Викторовна
שפה:רוסית
יצא לאור: Москва, Радио и связь, 1987
נושאים:
Электроника интегральная
надежность
физические основы
контакты
металл-полупроводник
эксплуатация
электрофизические параметры
расчет
физико-химические процессы
старение
деградация
использование
перспективы
פורמט: ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=272519
  • מלאי ספרים
  • תיאור
  • פריטים דומים
  • תצוגת צוות

פריטים דומים

  • Физика и применение контакта металл-полупроводник: сборник научных трудов
    יצא לאור: (Краснодар, 1989)
  • Интегральная электроника в измерительных устройствах
    מאת: Гутников В. С. Валентин Сергеевич
    יצא לאור: (Москва, Энергоатомиздат, 1988)
  • Контакты металл-полупроводник: пер. с англ.
    מאת: Родерик Э. Х. Эмвил Х.
    יצא לאור: (Москва, Радио и связь, 1982)
  • Применение контакта металл-полупроводник в электронике
    מאת: Валиев К. А. Камиль Ахметович
    יצא לאור: (Москва, Радио и связь, 1981)
  • Физические основы электроники. Контакты металл–полупроводник учебно-методическое пособие
    מאת: Дорогой С. В.
    יצא לאור: (Новосибирск, НГТУ, 2019)