Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников

Podobne knjige/članki

• Микропроцессорный характериограф; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
  od: Бикбулатов А. С.
  Izdano: (2014)
• Программа расчета параметров МДП-структуры по методу Термана; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8
  od: Давыдов В. Н.
  Izdano: (2006)
• Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур: Отчет о НИР; Тема: 10-36/89
  Izdano: (Томск, 1990)
• Программо-управляемые модули для автоматизации измерений вольт-амперных характеристик цепочек переходов Джозефсона; Приборы и техника эксперимента; № 1
  Izdano: (2002)
• Введение в физику полупроводников: пер. с англ.
  od: Данлэп У.
  Izdano: (Москва, Изд-во иностранной литературы, 1959)