Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников

Ítems similars

• Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур: Отчет о НИР; Тема: 10-36/89
  Publicat: (Томск, 1990)
• Программа расчета параметров МДП-структуры по методу Термана; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8
  per: Давыдов В. Н.
  Publicat: (2006)
• Микропроцессорный характериограф; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
  per: Бикбулатов А. С.
  Publicat: (2014)
• Физические основы продукции высокотехнологичного производства
  per: Вострецова Л. Н.
  Publicat: (Ульяновск, УлГУ, 2021)
• Введение в физику полупроводников: пер. с англ.
  per: Данлэп У.
  Publicat: (Москва, Изд-во иностранной литературы, 1959)