• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzata
  • Измерение параметров оптически...
  • Citazione
  • Invia SMS
  • Invia email
  • Stampa
  • Esporta il record
    • Esporta a RefWorks
    • Esporta a EndNoteWeb
    • Esporta a EndNote
  • PLink permanente
Esportazione completata correttamente — 
Измерение параметров оптических покрытий

Измерение параметров оптических покрытий

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Комраков Б. М. Борис Михайлович
Altri autori: Шапочкин Б. А. Борис Алексеевич
Lingua:russo
Pubblicazione: Москва, Машиностроение, 1986
Serie:Библиотека приборостроителя
Soggetti:
Тонкопленочная технология
тонкослойные покрытия
толщина
измерение
оптические постоянные
спектрофотометрические измерения
оптические покрытия
качественные характеристики
Natura: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=266144
  • Posseduto
  • Descrizione
  • Documenti analoghi
  • MARC21

Documenti analoghi

  • Технология изготовления тонкопленочных элементов приборов: лекции
    di: Котенко Г. И. Георгий Иванович
    Pubblicazione: (Ленинград, Изд-во Ленинградского электротехнического института, 1979)
  • Толстопленочная микроэлектроника
    Pubblicazione: (Киев, Наукова думка, 1983)
  • Т. 1; Вакуумное оборудование тонкопленочной технологии производства изделий электронной техники
    Pubblicazione: (1995)
  • Т. 2; Вакуумное оборудование тонкопленочной технологии производства изделий электронной техники
    Pubblicazione: (1996)
  • Микро- и нанотехнологии пленочных гетерокомпозиций: курс лекций
    di: Кузнецов Г. Д. Геннадий Дмитриевич
    Pubblicazione: (Москва, Изд-во МИСиС, 2008)