• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Измерение параметров оптически...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Измерение параметров оптических покрытий

Измерение параметров оптических покрытий

Bibliographic Details
Main Author: Комраков Б. М. Борис Михайлович
Other Authors: Шапочкин Б. А. Борис Алексеевич
Published: Москва, Машиностроение, 1986
Series:Библиотека приборостроителя
Subjects:
тонкослойные покрытия
толщина
измерение
оптические постоянные
спектрофотометрические измерения
оптические покрытия
качественные характеристики
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=266144
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Технология изготовления тонкопленочных элементов приборов лекции
    by: Котенко Г. И. Георгий Иванович
    Published: (Ленинград, Изд-во Ленинградского электротехнического института, 1979)
  • Толстопленочная микроэлектроника
    Published: (Киев, Наукова думка, 1983)
  • Т. 1
    Published: (1995)
  • Т. 2
    Published: (1996)
  • Микро- и нанотехнологии пленочных гетерокомпозиций курс лекций
    by: Кузнецов Г. Д. Геннадий Дмитриевич
    Published: (Москва, Изд-во МИСиС, 2008)