• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Napredno
  • Диагностика микроэлектронных с...
  • Citiraj
  • Pošljite SMS
  • Pošljite email
  • Natisni
  • Izvozi zadetek
    • Izvozi v RefWorks
    • Izvozi v EndNoteWeb
    • Izvozi v EndNote
  • Permanent link
Диагностика микроэлектронных структур

Диагностика микроэлектронных структур

Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica: Физико-технологический институт
Drugi avtorji: Афанасьев А. М. (редактор)
Jezik:ruščina
Izdano: Москва, Наука, 1993
Serija:Труды физико-технологического института Т. 5
Teme:
электроника
микроэлектроника
интегральные схемы
техническая диагностика
СБИС
элементы
рентгеновская дифракция
электронная микроскопия
труды
Format: Knjiga
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=26247
  • Zaloga
  • Opis
  • Podobne knjige/članki
  • Knjižničarski pogled

Podobne knjige/članki

  • Сборка и герметизация микроэлектронных устройств
    od: Волков В. А. Виталий Александрович
    Izdano: (Москва, Радио и связь, 1982)
  • Логическое проектирование СБИС: пер. с яп.
    od: Киносита К. Кодзо
    Izdano: (Москва, Мир, 1988)
  • Численное моделирование микроэлектронных структур
    od: Мулярчик С. Г. Степан Григорьевич
    Izdano: (Минск, Университетское, 1989)
  • Кн. 7: Микроэлектронные СВЧ-устройства; Микроэлектроника
    od: Филатов И. Н. Игорь Николаевич
    Izdano: (1987)
  • Автоматизированное проектирование СБИС на базовых кристаллах
    Izdano: (Москва, Радио и связь, 1988)