Ч. 2; Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем

Библиографические подробности
Источник:Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г./ Рязанский радиотехнический институт (РРИ) ; под ред. П. Т. Орешкина. Ч. 2.— , 1988
Язык:русский
Опубликовано: 1988
Предметы:
Формат: Книга
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=262337