Ч. 2

Dettagli Bibliografici
Parent link:	Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г./ Рязанский радиотехнический институт (РРИ) ; под ред. П. Т. Орешкина. Ч. 2.— , 1988
Pubblicazione:	1988
Soggetti:	микроэлектронные схемы микроэлементы микросхемы надежность стабильность качество диоды Шоттки электрофизические параметры дефекты светоизлучающие структуры глубокие центры кремниевые микросхемы p-n переходы инжекция стеклообразные полупроводники семинары
Natura:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=262337

Descrizione
Descrizione fisica:	159 с. ил.

Documenti analoghi