Ч. 2; Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем

Dades bibliogràfiques
Parent link:	Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г./ Рязанский радиотехнический институт (РРИ) ; под ред. П. Т. Орешкина. Ч. 2.— , 1988
Idioma:	rus
Publicat:	1988
Matèries:	Микроэлектроника микроэлектронные схемы микроэлементы микросхемы надежность стабильность качество диоды Шоттки электрофизические параметры дефекты светоизлучающие структуры глубокие центры кремниевые микросхемы p-n переходы инжекция стеклообразные полупроводники семинары
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=262337

Ítems similars