Надежность запоминающих устройств

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:	Огнев И. В. Иван Васильевич
Beste egile batzuk:	Сарычев К. Ф. Константин Федорович
Argitaratua:	Москва, Радио и связь, 1988
Gaiak:	отказы статистическое моделирование ошибки обнаружение функциональный контроль диагностирование коррекция параметрическая надежность
Formatua:	Liburua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=262100

Antzeko izenburuak