Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Détails bibliographiques
Auteur principal: Александров Л. Н. Леонид Наумович
Collectivité auteur: Академия наук СССР (АН СССР) Сибирское отделение (СО) Институт физики полупроводников (ИФП)
Autres auteurs: Зотов М. И. Михаил Иванович (редактор), Смирнов Л. С.
Langue:russe
Publié: Новосибирск, Наука, 1979
Sujets:
Полупроводники > Дефекты
трение
измерение
исследование
кремний
германий
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=261308

Documents similaires