Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Bibliographic Details
Main Author: Александров Л. Н. Леонид Наумович
Corporate Author: Академия наук СССР (АН СССР) Сибирское отделение (СО) Институт физики полупроводников (ИФП)
Other Authors: Зотов М. И. Михаил Иванович (340), Смирнов Л. С.
Published: Новосибирск, Наука, 1979
Subjects:
трение
измерение
исследование
кремний
германий
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=261308

Similar Items