• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Методы исследования полупровод...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Методы исследования полупроводников учебное пособие для вузов

Методы исследования полупроводников, учебное пособие для вузов

Bibliographic Details
Main Author: Воробьев Ю. В. Юрий Васильевич
Other Authors: Добровольский В. Н. Валентин Николаевич, Стриха В. И. Виталий Илларионович
Published: Киев, Вища школа, 1988
Subjects:
исследование
учебные пособия
внешние воздействия
измерения
удельное сопротивление
носители заряда
подвижность
тепловые характеристики
рекомбинация
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=259166
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Влияние слоистых периодических неоднородностей на пьезосопротивление γ-облученных монокристаллов n-Si и n-Ge
    Published: (2004)
  • Физика поверхности полупроводников учебное пособие для вузов
    by: Пека Г. П. Генриета Павловна
    Published: (Киев, Изд-во Киевского ун-та, 1967)
  • Определение характеристических параметров полупроводников по электрическим, оптическим и магнитным измерениям пер. с нем.
    by: Буш Г.
    Published: (Москва, Изд-во иностранной литературы, 1959)
  • Ч. 1
    Published: (1985)
  • Рекомбинация носителей тока в полупроводниках сборник статей пер. с англ.
    Published: (Москва, Изд-во иностранной литературы, 1959)