Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов, монография

Bibliographic Details
Corporate Authors:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ), Томский государственный университет (ТГУ) Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (СФТИ)
Other Authors:	Клопотов А. А. Анатолий Анатольевач, Абзаев Ю. А. Юрий Афанасьевич, Потекаев А. И. Александр Иванович, Волокитин О. Г. Олег Геннадьевич, Клопотов В. Д. Владимир Дмитриевич
Summary:	В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Published:	Томск, Изд-во ТПУ, 2013
Subjects:	рентгеновские излучения рентгеновские лучи рассеяние кристаллические решетки геометрическая кристаллография рентгеноструктурный анализ фазовый анализ дифрактограммы множитель Лоренца сингония межплоскостные расстояния монографии труды учёных ТПУ
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=247397

Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов, монография

Similar Items