О люкс-вольтовой характеристике конденсаторной фотоэдс в системе Si-SiO2; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280 : Неразрушающие методы контроля

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 280 : Неразрушающие методы контроля.— 1975.— [С. 130-133]
প্রধান লেখক: Зайдман С. А.
অন্যান্য লেখক: Курындина Н. К., Свирякин Д. И.
সংক্ষিপ্ত:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В работе исследуется люкс-вольтовая характеристика конденсаторной фотоэдс для системы Si-SiO2. Для сравнения с экспериментом приведены расчетные люкс-вольтовые характеристики для случаев отсутствия и наличия захвата неравновесных носителей на поверхностные состояния. Показано, что захват основных носителей может оказать заметное влияние на форму люкс-вольтовой характеристики. Объясняется наблюдаемое в эксперименте раннее насыщение люкс-вольтовой характеристики.
ভাষা:রুশ
প্রকাশিত: 1975
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=238428

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 238428
005 20231031205131.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\259617 
035 |a RU\TPU\book\259616 
090 |a 238428 
100 |a 20130527d1975 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drnn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a О люкс-вольтовой характеристике конденсаторной фотоэдс в системе Si-SiO2  |b Электронный ресурс  |f С. А. Зайдман, Н. К. Курындина, Д. И. Свирякин 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 2 файла (135 Кб, 3.4 Мб) 
230 |a Электронные текстовые данные (2 файла : 135 Кб, 3.4 Мб) 
300 |a Заглавие с титульного листа 
300 |a Электронная версия печатной публикации 
320 |a [Библиогр.: с. 133 (4 назв.)] 
330 |a В работе исследуется люкс-вольтовая характеристика конденсаторной фотоэдс для системы Si-SiO2. Для сравнения с экспериментом приведены расчетные люкс-вольтовые характеристики для случаев отсутствия и наличия захвата неравновесных носителей на поверхностные состояния. Показано, что захват основных носителей может оказать заметное влияние на форму люкс-вольтовой характеристики. Объясняется наблюдаемое в эксперименте раннее насыщение люкс-вольтовой характеристики. 
337 |a Adobe Reader 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\200995  |t Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]  |f Томский политехнический институт (ТПИ)  |d 1944-1976 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\259417  |t Т. 280 : Неразрушающие методы контроля  |v [С. 130-133]  |d 1975  |p 145 с. 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
675 |a 537.311.33  |v 3 
700 1 |a Зайдман  |b С. А. 
701 1 |a Курындина  |b Н. К. 
701 1 |a Свирякин  |b Д. И. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20090320  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20130531  |g PSBO 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/1975/v280/31_bw.pdf  |z Черно-белая версия для предварительного просмотра 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/1975/v280/31_full.pdf  |z Цветная версия без потери качества 
942 |c CF