Анализ тонких пленок SiO2 и плавиковой кислоты на содержание микропримесей некоторых элементов методом АПН

Bibliographic Details
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 275 : Неорганическая химия и химическая технология.— 1976.— [С. 109-112]
Main Author: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Other Authors: Покровская А. Н., Стромберг А. Г. Армин Генрихович
Summary:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Разработана методика анализа тонких пленок SiO2 плавиковой кислоты и воды, используемых в технологии производства интегральных схем на содержание 10-7 10-9% примесей Zn, Cd, Pb, In, Sn, Cu, Bi.
Language:Russian
Published: 1976
Subjects:
Online Access:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=237374

Similar Items