Каплин А. А. Анатолий Александрович, Покровская А. Н., & Стромберг А. Г. Армин Генрихович. (1976). Анализ тонких пленок SiO2 и плавиковой кислоты на содержание микропримесей некоторых элементов методом АПН; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 275: Неорганическая химия и химическая технология. 1976.
Chicago Style (17th ed.) CitationКаплин А. А. Анатолий Александрович, Покровская А. Н., and Стромберг А. Г. Армин Генрихович. Анализ тонких пленок SiO2 и плавиковой кислоты на содержание микропримесей некоторых элементов методом АПН; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 275: Неорганическая химия и химическая технология. 1976, 1976.
MLA (9th ed.) CitationКаплин А. А. Анатолий Александрович, et al. Анализ тонких пленок SiO2 и плавиковой кислоты на содержание микропримесей некоторых элементов методом АПН; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 275: Неорганическая химия и химическая технология. 1976, 1976.