Исследование фазового состава тонких пленок диоксида титана, полученных среднечастотным дуальным магнетронным распылением; Перспективы развития фундаментальных наук

Бібліографічні деталі
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2012.— [С. 215-217]
Автор: Сиделёв Д. В. Дмитрий Владимирович
Інші автори: Подаруева Ю. С. (научный руководитель), Юрьев Ю. Н. Юрий Николаевич
Резюме:Заглавие с экрана
Titanium dioxide (TiO2) thin films were obtained using the DMS method. In this report we discuss the phase composition thin films of TiO2 depending on conditions of sputtering. The films were characterized by spectrophotometry and ellipsometry methods. The main result of this investigation is determination the mode of deposition thin films of the required stoichiometry.
Мова:Англійська
Опубліковано: 2012
Серія:Физика
Предмети:
Онлайн доступ:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2012/C21/069.pdf
Формат: Електронний ресурс Частина з книги
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=237350

Схожі ресурси