Разработка многоканальных вихретоковых дефектоскопов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 221 : Неразрушающие испытания материалов и изделий в электромагнитных полях
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 221 : Неразрушающие испытания материалов и изделий в электромагнитных полях.— 1976.— [С. 50-53] |
|---|---|
| Автор: | |
| Інші автори: | |
| Резюме: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Анализируются основные помехи, ограничивающие чувствительность электромагнитных дефектоскопов. Рассматривается принцип действия двухканального дефектоскопа, обладающего пониженной чувствительностью к радиальным смещениям и индустриальным помехам, отмечаются недостатки схемы. Приводится функциональная схема дефектоскопа, обладающего адаптацией к скорости движения изделия. |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
1976
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| Формат: | Електронний ресурс Частина з книги |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=225910 |