Влияние аппаратурных погрешностей на точность регрессионных оценок при многопараметровом контроле; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 221 : Неразрушающие испытания материалов и изделий в электромагнитных полях

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 221 : Неразрушающие испытания материалов и изделий в электромагнитных полях.— 1976.— [С. 24-28]
1. Verfasser: Оскорбин Н. М.
Weitere Verfasser: Плотников В. С.
Zusammenfassung:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В работе исследуется влияние систематических и случайных погрешностей регистрации исходных данных на точность определения уравнения взаимосвязи контролируемого параметра с информативными переменными. На основании полученных аналитических выражений даются рекомендации по проектированию приборов многопараметрового контроля.
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Online-Zugang:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
Format: Elektronisch Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=225902