Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учебное пособие

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Валянский С. И. Сергей Иванович
Korporativna značnica: Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Кафедра физики
Drugi avtorji: Наими Е. К. Евгений Кадырович
Izvleček:Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием "Современные методы исследования наноструктур". Цель данного пособия - дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодейст вия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл - диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов - метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника.
Jezik:ruščina
Izdano: Москва, Изд-во МИСиС, 2011
Teme:
Format: Knjiga
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=204036

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 204036
005 20231101225205.0
010 |a 9785876234605 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\222368 
090 |a 204036 
100 |a 20111118d2011 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии  |e учебное пособие  |f С. И. Валянский, Е. К. Наими  |g Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра физики 
210 |a Москва  |c Изд-во МИСиС  |d 2011 
215 |a 172 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 152-159. 
330 |a Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием "Современные методы исследования наноструктур". Цель данного пособия - дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодейст вия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл - диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов - метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника. 
606 1 |a Плазмоника  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\71567  |9 85424 
610 1 |a электромагнитные волны 
610 1 |a взаимодействие с веществом 
610 1 |a дисперсия 
610 1 |a поверхностные волны 
610 1 |a возбуждение 
610 1 |a регистрация 
610 1 |a ППР 
610 1 |a поверхностный плазменный резонанс 
610 1 |a применение 
610 1 |a оптическая микроскопия 
610 1 |a сенсорные устройства 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a параметры 
610 1 |a метаматериалы 
610 1 |a пространственная дисперсия 
610 1 |a свет 
610 1 |a преломление 
610 1 |a фотонные кристаллы 
610 1 |a нанофотоника 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 538.9(075.8)  |v 3 
700 1 |a Валянский  |b С. И.  |g Сергей Иванович 
701 1 |a Наими  |b Е. К.  |g Евгений Кадырович 
712 0 2 |a Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС"  |b Кафедра физики  |c (Москва)  |c (2008- )  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\17156 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20111118 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150515  |g RCR 
900 |a Методы исследования материалов и процессов 
900 |a Наноструктурные материалы 
900 |a Наноматериалы 
942 |c BK 
959 |a 95/20111118  |d 2  |e 280,50  |f ЧЗТЛ:1  |f АНЛ:1