Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии, учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Валянский С. И. Сергей Иванович
Corporate Author: Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Кафедра физики
Other Authors: Наими Е. К. Евгений Кадырович
Summary:Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием "Современные методы исследования наноструктур". Цель данного пособия - дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодейст вия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл - диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов - метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника.
Published: Москва, Изд-во МИСиС, 2011
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=204036