• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Применение электронной спектро...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности пер. с англ.

Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности, пер. с англ.

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Ибах Х. (340)
Idioma:rus
Publicat: Рига, Зинатне, 1980
Col·lecció:Проблемы современной физики
Matèries:
поверхности
анализ
электронная спектроскопия
электронные спектрометры
конструкции
электронное возбуждение
электронная дифракция
точечные дефекты
фотоэмиссионная спектроскопия
электронные переходы
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=193987
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Ítems similars

  • Современные проблемы электронной спектроскопии Электронные спектрометры и их применение
    per: Козлов И. Г. Игорь Гордеевич
    Publicat: (Москва, Атомиздат, 1978)
  • Принципы электронной туннельной спектроскопии
    per: Вольф Е. Л.
    Publicat: (Киев, Наук. думка, 1990)
  • Новые достижения в ядерной физике
    per: Магилл Й.
    Publicat: (2002)
  • Chemistry and Physics of Solid Surfaces. S. V
    Publicat: (Berlin, Springer-Verlag, 1984)
  • Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности
    per: Комолов С. А.
    Publicat: (Ленинград, Изд-во Ленинградского ун-та, 1986)