|
|
|
|
| LEADER |
00000nbm0a2200000 4500 |
| 001 |
184912 |
| 005 |
20231031172536.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\200546
|
| 090 |
|
|
|a 184912
|
| 100 |
|
|
|a 20100927d1964 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a p 000zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков
|e Отчет о НИР
|f Томский политехнический институт (ТПИ) ; руководитель Л. М. Ананьев ; В. Я. Кривчик
|
| 210 |
|
|
|a Томск
|d 1964
|
| 215 |
|
|
|a 8 л.
|
| 610 |
1 |
|
|a отчеты о НИР
|
| 610 |
1 |
|
|a информационные системы
|
| 610 |
1 |
|
|a эффективность
|
| 610 |
1 |
|
|a помехи
|
| 610 |
1 |
|
|a слабоконтрастные рисунки
|
| 610 |
1 |
|
|a дефектоскопические рисунки
|
| 610 |
1 |
|
|a повышение
|
| 675 |
|
|
|a 620.15
|v 3
|
| 702 |
|
1 |
|a Ананьев
|b Л. М.
|4 673
|
| 702 |
|
1 |
|a Кривчик
|b В. Я.
|4 677
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Томский политехнический институт (ТПИ)
|c (1944-1991)
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\1123
|4 595
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20100927
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20180910
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
