Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков Отчет о НИР

Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков, Отчет о НИР

Bibliographic Details
Corporate Author: Томский политехнический институт (ТПИ) (595)
Other Authors: Ананьев Л. М. (673), Кривчик В. Я. (677)
Published: Томск, 1964
Subjects:
отчеты о НИР
информационные системы
эффективность
помехи
слабоконтрастные рисунки
дефектоскопические рисунки
повышение
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=184912

Similar Items