Томский политехнический институт (ТПИ), Ананьев Л. М., & Кривчик В. Я. (1964). Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков: Отчет о НИР. Томск, 1964.
Chicago Style (17th ed.) CitationТомский политехнический институт (ТПИ), Ананьев Л. М., and Кривчик В. Я. Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков: Отчет о НИР. Томск, 1964, 1964.
MLA (9th ed.) CitationТомский политехнический институт (ТПИ), et al. Метод обработки слабоконтрастных завуалированных дефектоскопических рисунков: Отчет о НИР. Томск, 1964, 1964.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.