Оценка качества изображений с использованием вейвлетов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 315, № 5: Управление, вычислительная техника и информатика

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 315, № 5: Управление, вычислительная техника и информатика.— 2009.— [С. 104-107]
Κύριος συγγραφέας: Сидоров Д. В. Дмитрий Владимирович
Άλλοι συγγραφείς: Осокин А. Н. Александр Николаевич, Марков Н. Г. Николай Григорьевич
Περίληψη:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Исследована эталонная метрика оценки качества изображений CW-SSIM на основе комплексных вейвлетов. Предложены эталонные метрики AWS и fAWS, являющиеся модифицированными версиями CW-SSIM метрики и дающие более адекватную оценку качества изображений.
Γλώσσα:Ρωσικά
Έκδοση: 2009
Σειρά:Управление, вычислительная техника и информатика
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2009/v315/i5/21.pdf
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=177426

Παρόμοια τεκμήρια