Оценка качества изображений с использованием вейвлетов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 315, № 5: Управление, вычислительная техника и информатика
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 315, № 5: Управление, вычислительная техника и информатика.— 2009.— [С. 104-107] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | , |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Исследована эталонная метрика оценки качества изображений CW-SSIM на основе комплексных вейвлетов. Предложены эталонные метрики AWS и fAWS, являющиеся модифицированными версиями CW-SSIM метрики и дающие более адекватную оценку качества изображений. |
| Language: | Russian |
| Published: |
2009
|
| Series: | Управление, вычислительная техника и информатика |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2009/v315/i5/21.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=177426 |