Исследование влияния неоднородности характеристик исходного материала кремния на параметры фотоэлектрических преобразователей
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 314, № 2: Математика и механика. Физика.— 2009.— [С. 145-149] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Предложены методики и устройства для бесконтактного локального измерения электрофизических параметров Si. С их помощью проведено исследование неоднородности удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и типа проводимости в пластинах кремния, из которой затем были изготовлены фотоэлектрические преобразователи. Представлены результаты влияния неоднородного распределения электрофизических параметров в подложке фотоэлектрических преобразователей на его эффективность. |
| Published: |
2009
|
| Series: | Математика и механика. Физика |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2009/v314/i2/33.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=174395 |