Аппроксимация профиля асферической поверхности
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 312, № 5 : Управление, вычислительная техника и информатика.— 2008.— [С. 10-12] |
|---|---|
| Egile nagusia: | |
| Beste egile batzuk: | , |
| Gaia: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE. |
| Argitaratua: |
2008
|
| Saila: | Управление, вычислительная техника и информатика |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i5/02.pdf |
| Formatua: | Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=173256 |
| Deskribapen fisikoa: | 1 файл (514 Кб) |
|---|---|
| Gaia: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE. |