Аппроксимация профиля асферической поверхности

Dades bibliogràfiques
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 312, № 5 : Управление, вычислительная техника и информатика.— 2008.— [С. 10-12]
Autor principal: Рейзлин В. И. Валерий Израилевич
Altres autors: Марчук С. М. Сергей Михайлович, Дёмин А. Ю. Антон Юрьевич
Sumari:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE.
Publicat: 2008
Col·lecció:Управление, вычислительная техника и информатика
Matèries:
Accés en línia:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i5/02.pdf
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=173256
Descripció
Descripció física:1 файл (514 Кб)
Sumari:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Предложена методика аппроксимации профиля асферической оптической поверхности, содержащей ошибки изготовления. Для аппроксимации используются измеренные отклонения реального профиля поверхности от расчетных значений. Результатами аппроксимации являются новые значения коэффициентов в уравнении профиля асферической поверхности. Аппроксимация выполняется с целью анализа влияния ошибок изготовления на качество изображения оптической системы, элементом которой является контролируемая асферическая поверхность. Предложенная методика реализована в автоматизированном приложении PROFILE.