Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла

Podrobná bibliografie
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 312, № 4 : Энергетика.— 2008.— [С. 135-140]
Hlavní autor: Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
Další autoři: Мамонтов Г. Я. Геннадий Яковлевич, Титов А. В. Александр Валерьевич
Shrnutí:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Проведено численное моделирование нестационарного двумерного температурного поля токоведущей дорожки полупроводникового прибора для двух случаев работы типичного силового транзистора: в условиях окисления проводника кислородом воздуха, и без протекания процесса окисления металла. Сопоставлены интенсивности отказов транзистора для этих двух случаев. Показано, что изменение интенсивности отказов в условиях окисления составляет не менее 50 %. Установлено, что при оценке показателей надежности приборов необходимо проводить анализ с учетом процесса окисления металла.
Vydáno: 2008
Edice:Энергетика
Témata:
On-line přístup:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i4/30.pdf
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=173248

Podobné jednotky