Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 312, № 4 : Энергетика.— 2008.— [С. 135-140] |
|---|---|
| Hovedforfatter: | |
| Andre forfattere: | , |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Проведено численное моделирование нестационарного двумерного температурного поля токоведущей дорожки полупроводникового прибора для двух случаев работы типичного силового транзистора: в условиях окисления проводника кислородом воздуха, и без протекания процесса окисления металла. Сопоставлены интенсивности отказов транзистора для этих двух случаев. Показано, что изменение интенсивности отказов в условиях окисления составляет не менее 50 %. Установлено, что при оценке показателей надежности приборов необходимо проводить анализ с учетом процесса окисления металла. |
| Sprog: | russisk |
| Udgivet: |
2008
|
| Serier: | Энергетика |
| Fag: | |
| Online adgang: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i4/30.pdf |
| Format: | Electronisk Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=173248 |