Кузнецов Г. В. Гений Владимирович, Мамонтов Г. Я. Геннадий Яковлевич, & Титов А. В. Александр Валерьевич. (2008). Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла. 2008.
Chicago Style (17th ed.) CitationКузнецов Г. В. Гений Владимирович, Мамонтов Г. Я. Геннадий Яковлевич, and Титов А. В. Александр Валерьевич. Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла. 2008, 2008.
MLA引文Кузнецов Г. В. Гений Владимирович, et al. Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла. 2008, 2008.
警告:這些引文格式不一定是100%准確.