Исследование действия больших доз излучения на индуцированную примесную фотопроводимость в монокристаллическом SI<B>; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:Томский политехнический университет. Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— .— Томск: Изд-во ТПУ, 1998-2015.— 1684-8519
Неразрушающий контроль и диагностика.— 2008.— [С. 76-79]
Κύριος συγγραφέας: Зыков В. М. Владимир Михайлович
Άλλοι συγγραφείς: Киселёв А. Н.
Περίληψη:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Γλώσσα:Ρωσικά
Έκδοση: 2008
Σειρά:Радиационные методы контроля и испытаний
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i2app/14.pdf
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=172999

Παρόμοια τεκμήρια