Исследование действия больших доз излучения на индуцированную примесную фотопроводимость в монокристаллическом SI<B>

Bibliographic Details
Parent link:	Томский политехнический университет. Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— .— Томск: Изд-во ТПУ, 1998-2015.— 1684-8519 Неразрушающий контроль и диагностика.— 2008.— [С. 76-79]
Main Author:	Зыков В. М. Владимир Михайлович
Other Authors:	Киселёв А. Н.
Summary:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации
Published:	2008
Series:	Радиационные методы контроля и испытаний
Subjects:	излучение фотопроводимость электронное излучение радиационные дефекты фоторезисторы облучение труды учёных ТПУ электронный ресурс
Online Access:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i2app/14.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=172999

Internet