Штейн А. М. Александр Михайлович, Твердохлебов В. Н., & Усачев Е. Ю. (2008). Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008.
Cita Chicago (17th ed.)Штейн А. М. Александр Михайлович, Твердохлебов В. Н., i Усачев Е. Ю. Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.
Cita MLA (9th ed.)Штейн А. М. Александр Михайлович, et al. Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика. 2008, 2008.