Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Неразрушающий контроль и диагностика

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:	Томский политехнический университет. Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— .— Томск: Изд-во ТПУ, 1998-2015.— 1684-8519 Неразрушающий контроль и диагностика.— 2008.— [С. 35-38]
Egile nagusia:	Штейн А. М. Александр Михайлович
Beste egile batzuk:	Твердохлебов В. Н., Усачев Е. Ю.
Gaia:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации
Hizkuntza:	errusiera
Argitaratua:	2008
Saila:	Радиационные методы контроля и испытаний
Gaiak:	рентгеновские аппараты промышленная дефектоскопия труды учёных ТПУ электронный ресурс
Sarrera elektronikoa:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i2app/08.pdf
Formatua:	Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=172981

Internet