Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур

Dades bibliogràfiques
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 309, № 8.— 2006.— [С. 42-46]
Altres autors: Давыдов В. Н., Троян П. Е., Зайцев Н. Г., Беляев С. В.
Sumari:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды.
Idioma:rus
Publicat: 2006
Col·lecció:Технические науки
Matèries:
Accés en línia:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=171865

Ítems similars