Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8

Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8

Bibliographic Details
Parent link:	Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 309, № 8.— 2006.— [С. 42-46]
Other Authors:	Давыдов В. Н., Троян П. Е., Зайцев Н. Г., Беляев С. В.
Summary:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды.
Language:	Russian
Published:	2006
Series:	Технические науки
Subjects:	автоматизированные комплексы исследования полупроводниковые структуры свойства электрофизические характеристики фотоэлектрические характеристики измерительные методики схемотехнические решения конструкторско-технологические решения аналоги параметры температура влажность окружающая среда электронный ресурс
Online Access:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=171865

Internet

http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf