Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 309, № 8.— 2006.— [С. 42-46] |
|---|---|
| अन्य लेखक: | , , , |
| सारांश: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды. |
| भाषा: | रूसी |
| प्रकाशित: |
2006
|
| श्रृंखला: | Технические науки |
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf |
| स्वरूप: | इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=171865 |