Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 309, № 8.— 2006.— [С. 42-46] |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , , , |
| סיכום: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды. |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
2006
|
| סדרה: | Технические науки |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf |
| פורמט: | אלקטרוני Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=171865 |
MARC
| LEADER | 00000nla2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 171865 | ||
| 005 | 20231031164139.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\book\186338 | ||
| 035 | |a RU\TPU\book\186337 | ||
| 090 | |a 171865 | ||
| 100 | |a 20091209d2006 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drnn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур |b Электронный ресурс |f В. Н. Давыдов [и др.] | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 215 | |a 1 файл (6.8 Мб) | ||
| 225 | 1 | |a Технические науки | |
| 230 | |a Электронные текстовые данные (1 файл : 6.8 Мб) | ||
| 300 | |a Заглавие с титульного листа | ||
| 300 | |a Электронная версия печатной публикации | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 46 (5 назв.)] | ||
| 330 | |a Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 461 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\book\176237 |t Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ] |f Томский политехнический университет (ТПУ) |d 2000- | |
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\book\186329 |x 1684-8519 |t Т. 309, № 8 |v [С. 42-46] |d 2006 |p 293 с. | |
| 610 | 1 | |a автоматизированные комплексы | |
| 610 | 1 | |a исследования | |
| 610 | 1 | |a полупроводниковые структуры | |
| 610 | 1 | |a свойства | |
| 610 | 1 | |a электрофизические характеристики | |
| 610 | 1 | |a фотоэлектрические характеристики | |
| 610 | 1 | |a измерительные методики | |
| 610 | 1 | |a схемотехнические решения | |
| 610 | 1 | |a конструкторско-технологические решения | |
| 610 | 1 | |a аналоги | |
| 610 | 1 | |a параметры | |
| 610 | 1 | |a температура | |
| 610 | 1 | |a влажность | |
| 610 | 1 | |a окружающая среда | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 701 | 1 | |a Давыдов |b В. Н. | |
| 701 | 1 | |a Троян |b П. Е. | |
| 701 | 1 | |a Зайцев |b Н. Г. | |
| 701 | 1 | |a Беляев |b С. В. | |
| 801 | 1 | |a RU |b 63413507 |c 20090623 |g PSBO | |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20211115 |g PSBO | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf | |
| 942 | |c CF | ||