Методы и средства исследования активных диэлектриков для наноиндустрии: системный подход, монография
| Autor principal: | |
|---|---|
| Autor corporatiu: | |
| Sumari: | На основе системного подхода рассмотрены методы и средства измерений электрофизических параметров активных диэлектриков. На примере сегнетоэлектриков - перспективных материалов микро- и наносистемнои техники проанализированы погрешности модели материалов, обусловленные присущими им физическими эффектами, а также параметрами контактов. Приведен функциональный и метрологический анализ модификаций метода Сойера-Тауэра и автоматизированной установки для измерения температурных и полевых зависимостей параметров активных диэлектриков. Рассмотрено применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования сегнетоэлектрических материалов. |
| Publicat: |
Пенза, Изд-во ПГУ, 2008
|
| Matèries: | |
| Format: | Llibre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=164344 |
| Descripció física: | 130 с. ил. |
|---|---|
| Sumari: | На основе системного подхода рассмотрены методы и средства измерений электрофизических параметров активных диэлектриков. На примере сегнетоэлектриков - перспективных материалов микро- и наносистемнои техники проанализированы погрешности модели материалов, обусловленные присущими им физическими эффектами, а также параметрами контактов. Приведен функциональный и метрологический анализ модификаций метода Сойера-Тауэра и автоматизированной установки для измерения температурных и полевых зависимостей параметров активных диэлектриков. Рассмотрено применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования сегнетоэлектрических материалов. |
| ISBN: | 9785941702282 |