Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 303, вып. 3

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 303, вып. 3.— 2000.— [С. 12-21]
অন্যান্য লেখক: Крючков Ю. Ю. Юрий Юрьевич, Малютин В. М. Василий Михайлович, Пичугин В. Ф. Владимир Федорович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Франгульян Т. С. Тамара Семёновна
সংক্ষিপ্ত:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO.
ভাষা:রুশ
প্রকাশিত: 2000
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2000/v303/i3/02.pdf
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=162865

অনুরূপ উপাদানগুলি