Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 303, вып. 3.— 2000.— [С. 12-21] |
|---|---|
| अन्य लेखक: | , , , , |
| सारांश: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO. |
| भाषा: | रूसी |
| प्रकाशित: |
2000
|
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2000/v303/i3/02.pdf |
| स्वरूप: | इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=162865 |