Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 303, вып. 3

書誌詳細
Parent link:Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000-
Т. 303, вып. 3.— 2000.— [С. 12-21]
その他の著者: Крючков Ю. Ю. Юрий Юрьевич, Малютин В. М. Василий Михайлович, Пичугин В. Ф. Владимир Федорович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Франгульян Т. С. Тамара Семёновна
要約:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO.
言語:ロシア語
出版事項: 2000
主題:
オンライン・アクセス:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2000/v303/i3/02.pdf
フォーマット: 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=162865

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 162865
005 20240208162505.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\176652 
035 |a RU\TPU\book\176645 
090 |a 162865 
100 |a 20090629d2000 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drnn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков  |f Ю. Ю. Крючков, В. М. Малютин, В. Ф. Пичугин [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл (5.4 Мб) 
300 |a Заглавие с титульного листа 
300 |a Электронная версия печатной публикации 
320 |a [Библиогр.: 21 (5 назв.)] 
330 |a В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO. 
337 |a Adobe Reader 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\176237  |t Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]  |f Томский политехнический университет (ТПУ)  |d 2000- 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\176638  |t Т. 303, вып. 3  |o тематический выпуск  |f под ред. В. Л. Ульянова  |v [С. 12-21]  |d 2000 
610 1 |a диэлектрики 
610 1 |a ионное облучение 
610 1 |a ядерный микроанализ 
610 1 |a обратное рассеяние 
610 1 |a спектроскопические методы 
610 1 |a разработка 
610 1 |a применение 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
675 |a 548-162:539.16.04  |v 3 
675 |a 548-162:539.12.04  |v 3 
701 1 |a Крючков  |b Ю. Ю.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1945-  |g Юрий Юрьевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\25821  |9 11694 
701 1 |a Малютин  |b В. М.  |c физик  |c старший преподаватель Томского политехнического университета  |f 1961-  |g Василий Михайлович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30227  |9 14607 
701 1 |a Пичугин  |b В. Ф.  |c российский физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1944-  |g Владимир Федорович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\25824 
701 1 |a Сохорева  |b В. В.  |c физик  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета  |f 1944-  |g Валентина Викторовна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28149  |9 13107 
701 1 |a Франгульян  |b Т. С.  |c росиийскиё учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета  |g Тамара Семёновна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26534 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20090623  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20211116  |g PSBO 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2000/v303/i3/02.pdf 
942 |c CF