APA (7th ed.) Citation

Томский политехнический институт (ТПИ), Лисицын В. М. Виктор Михайлович, & Штанько В. Ф. Виктор Федорович. (1988). Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Томский политехнический институт (ТПИ), Лисицын В. М. Виктор Михайлович, and Штанько В. Ф. Виктор Федорович. Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988, 1988.

MLA (9th ed.) Citation

Томский политехнический институт (ТПИ), et al. Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988, 1988.