Томский политехнический институт (ТПИ), Лисицын В. М. Виктор Михайлович, & Штанько В. Ф. Виктор Федорович. (1988). Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988.
Chicagoスタイル(17版)引用形式Томский политехнический институт (ТПИ), Лисицын В. М. Виктор Михайлович, , Штанько В. Ф. Виктор Федорович. Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988, 1988.
MLA(9版)引用形式Томский политехнический институт (ТПИ), et al. Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин: Заключительный отчет о НИР; тема х/д 1-87/86. Томск, 1988, 1988.
警告: この引用は必ずしも正確ではありません.