Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин, Заключительный отчет о НИР

Bibliographic Details
Corporate Author:	Томский политехнический институт (ТПИ) (595)
Other Authors:	Лисицын В. М. Виктор Михайлович (673), Штанько В. Ф. Виктор Федорович (677)
Published:	Томск, 1988
Subjects:	отчеты о НИР катодолюминесценция полупроводники оптические свойства контроль качество труды учёных ТПУ
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=152658

Similar Items