Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур Отчет о НИР Тема: 10-36/89

Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур, Отчет о НИР

Bibliographic Details
Corporate Author: Томский политехнический институт (ТПИ) (595)
Other Authors: Асанов О. М. (673), Губайдулина Р. Х. (677)
Published: Томск, 1990
Subjects:
полупроводниковые структуры
средства измерения
вольт-фарадные характеристики
электролиты
арсенид галлия
фосфиды
аналого-цифровые преобразователи
отчеты о НИР
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=152522

Similar Items